A.X=50,X=80 B.X=50,X=49,X=80,X=81 C.X=51,X=81 D.X=50,X=81
A.靜態(tài)測(cè)試是用于預(yù)防的,動(dòng)態(tài)測(cè)試是用于矯正的 B.多次的靜態(tài)測(cè)試比動(dòng)態(tài)測(cè)試要效率和效益高 C.靜態(tài)測(cè)試綜合測(cè)試程序代碼 D.靜態(tài)測(cè)試比動(dòng)態(tài)測(cè)試更花時(shí)間
A.校正性維護(hù) B.適應(yīng)性維護(hù) C.完善性維護(hù) D.預(yù)防性維護(hù)
A.都可以,且不需要配置 B.不可以,對(duì)系統(tǒng)有損 C.可以混用,但必須配置為執(zhí)行相同的參數(shù)與功能,以低規(guī)格運(yùn)行 D.同種芯片的內(nèi)存可以,不同種的內(nèi)存不可以
A.x=2,y=6,z=5 B.x=6,y=6,z=5 C.x=8,y=6,z=4 D.x=8,y=5,z=5