A.芯片厚度 B.探頭外形尺寸 C.芯片直徑和頻率 D.探頭的種類
A.只能采用試塊方式 B.只能采用底波方式 C.可采用試塊或底波方式 D.任意選用不需調(diào)節(jié)
A.表面光滑度不好 B.粗晶干擾 C.厚度較大