單項(xiàng)選擇題

超聲波容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于（）。

A.波長(zhǎng)的一半
B.一個(gè)波長(zhǎng)
C.四分之一波長(zhǎng)
D.若干個(gè)波長(zhǎng)

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單項(xiàng)選擇題

調(diào)節(jié)儀器的探測(cè)距離時(shí)，試塊和被檢件必須在（）特性上一致。

A.材質(zhì)組織熱處理和加工
B.聲速
C.聲衰減，聲阻抗

單項(xiàng)選擇題

斜探頭楔塊底面磨損時(shí)，探頭的（）參數(shù)會(huì)變化。

A.頻率和芯片厚度
B.入射角和入射點(diǎn)
C.芯片厚度和發(fā)射脈沖
D.試樣中的波長(zhǎng)芯片直徑