單項(xiàng)選擇題

芯片與探測(cè)面平行，使超聲波垂直與探測(cè)進(jìn)入材料的檢驗(yàn)方法稱(chēng)為（）。

A.直射法
B.斜射法
C.表面波法
D.上述三種都不對(duì)

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