單項選擇題

如果探測面毛糙，應(yīng)該采用（）。

A、不太高頻率的探頭
B、較高頻率的探頭
C、硬保護(hù)膜探頭
D、大晶片探頭

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單項選擇題

用單探頭法，要發(fā)現(xiàn)與聲束取向不良的缺陷，應(yīng)采用的探頭頻率（）。

A、愈高愈好
B、愈低愈好
C、不太高
D、較尋常時取高值

單項選擇題

用單探頭法探測二個表面平整、但與入射聲束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且無工件界面的影響），它們的當(dāng)量（）。

A、面積大的，當(dāng)量也一定大
B、面積大的，當(dāng)量不一定比面積小的大
C、面積大的，當(dāng)量反而比面積小的小
D、相等

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