問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】整組試驗(yàn)有什么反措要求？

答案：用整組試驗(yàn)的方法即除由電流即電壓端子通入與故障量外，保護(hù)裝置處于與運(yùn)行完全相同的狀態(tài)下，檢查保護(hù)回路及整定值的正確性。不...

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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】對(duì)集成電路型及微機(jī)型保護(hù)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試應(yīng)注意些什么？

答案：（1）不得在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)過(guò)程中進(jìn)行檢修。
（2）在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)過(guò)程中不允許拔出插板測(cè)試，只允許用廠家提供的測(cè)試孔或測(cè)試板...

問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】對(duì)于由3U₀構(gòu)成的保護(hù)的測(cè)試，有什么反措要求？

答案：（1）不能以檢查3U0回路是否有不平衡電壓的方法來(lái)確認(rèn)3U0回路良好。
（2）不能單獨(dú)依靠“六角圖”測(cè)試方法確證...