就是在時(shí)間剖面上,識(shí)別和追蹤同一層反射波的相同相位。
一個(gè)函數(shù)同另一個(gè)函數(shù)符合好壞程度的一種度量。
兩個(gè)時(shí)間函數(shù)或函數(shù)的一部分之間的相似性的量度。