單項(xiàng)選擇題

紅外線檢測電流致熱型設(shè)備，最好在高峰負(fù)荷下進(jìn)行，否則，一般在（）額定負(fù)荷下進(jìn)行，同時(shí)應(yīng)充分考慮小負(fù)荷電流對測試結(jié)果的影響。

A.不低于20%
B.不低于30%
C.不低于50%
D.不低于60%

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單項(xiàng)選擇題

新建、改擴(kuò)建或大修后的電氣設(shè)備，紅外測溫應(yīng)在（）（但至少在24h以后）投運(yùn)帶負(fù)荷后進(jìn)行一次檢測。

A.不超過1個月內(nèi)
B.不超過1個周內(nèi)
C.不超過2個周內(nèi)
D.不超過5天內(nèi)

單項(xiàng)選擇題

導(dǎo)致設(shè)備局部放電的因素中的狀態(tài)運(yùn)行影響不包括哪項(xiàng)（）

A.絕緣材料不均勻
B.運(yùn)行過電壓
C.雷電波沖擊
D.諧波畸變