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【簡(jiǎn)答題】YE是利用何種方法找出缺陷(defect)?
答案:
缺陷掃描機(jī) (defect inspection tool)以圖像比對(duì)的方式來(lái)找出defect.并產(chǎn)出defect re...
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答案:
① Killer defect =>對(duì)良率有影響
② No...
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