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試件內(nèi)磁感應(yīng)強(qiáng)度和表面上裂紋的自身高度都一定時(shí),缺陷寬度越大,漏磁場(chǎng)的強(qiáng)度越大
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試件上的磁通密度在大于、等于飽和磁通密度的80%時(shí),缺陷漏磁通開始急劇增大
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