A、兼容性測試 B、功能測試 C、設(shè)備測試 D、內(nèi)存測試
A、編程設(shè)計難以修改 B、編程設(shè)計效果不好,難以達到要求 C、編程設(shè)計門檻太高 D、編程設(shè)計不僅復(fù)雜,而且工作量大
A、可讀性強 B、價格成本低 C、功能強 D、入門門檻低