單項(xiàng)選擇題

對(duì)于磁場和漏磁引起的過熱可根據(jù)（）設(shè)備的判據(jù)進(jìn)行處理。

A.電流致熱型
B.電磁效應(yīng)
C.電壓致熱型
D.綜合致熱型

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單項(xiàng)選擇題

紅外熱像檢測判斷方法中，（）在一段時(shí)間內(nèi)使用紅外熱像儀連續(xù)檢測某被測設(shè)備，觀察設(shè)備溫度隨負(fù)載、時(shí)間等因素變化的方法。

A.表面溫度判斷法
B.相對(duì)溫度判斷法
C.檔案分析判斷法
D.實(shí)時(shí)分析判斷法

單項(xiàng)選擇題

紅外熱像檢測判斷方法中，（）分析同一設(shè)備不同時(shí)期的溫度場分布，找出設(shè)備致熱參數(shù)的變化，判斷設(shè)備是否正常。

A.表面溫度判斷法
B.相對(duì)溫度判斷法
C.檔案分析判斷法
D.實(shí)時(shí)分析判斷法