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局部放電試驗(yàn)可以發(fā)現(xiàn)被試設(shè)備的內(nèi)部發(fā)熱、放電及其絕緣缺陷。
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沖擊放電電壓不僅和間隙有關(guān)而且與放電發(fā)生的時(shí)間有關(guān)。
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絕緣電阻試驗(yàn)在發(fā)生絕緣受潮和集中的貫穿性缺陷以及絕緣開(kāi)裂、陳舊等缺陷有效。
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