A.將微調(diào)電阻箱按四端鈕接法連接到雙電橋測量端,先測起始電阻,再測各盤阻值B.測定起始電阻R0時,要求反復測三次,取三次測量的算術(shù)平均值為R0,三次阻值間最大差值為變差C.依次測量微調(diào)電阻箱各盤阻值,測得值為Ri,則微調(diào)電阻箱示值電阻RMi=Ri-R0D.被檢微調(diào)電阻箱的最大基本誤差的計算數(shù)據(jù),應按規(guī)則進行修約,修約間隔為允許誤差限值的1/5
A.防止過量充放電,因過量充放電會引起電極極化,使電極電位偏離正常值B.防止日曬和強光照射,因強光下會產(chǎn)生滯后,內(nèi)阻變大C.防止溫度突變,因溫度突變會產(chǎn)生電動勢不穩(wěn)定D.防止震動、傾斜和倒置,因震動、傾斜和倒置會使電動勢值不穩(wěn)定甚至損壞電池
A.檢定環(huán)境條件,要求溫度范圍為23±5℃,相對濕度在40%-60%之間B.測試電壓,測試時施加于被檢電阻箱的電壓應為其最高使用電壓C.測量重復性的標準偏差不大于被檢電阻箱等級指數(shù)的1/5D.電阻箱檢定時,要求由標準檢定裝置和環(huán)境條件所引起的總不確定度不大于被檢電阻箱等級指數(shù)的1/3