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晶體中只要有缺陷,用透射電鏡就可以觀察到這個缺陷。
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明場像是質(zhì)厚襯度,暗場像是衍襯襯度。
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TEM的景深和焦長隨分辨率Δr0的數(shù)值減小而減??;隨孔徑半角α的減小而增加;隨放大倍數(shù)的提高而減小。
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