材料研究方法章節(jié)練習(xí)(2020.04.20)

來(lái)源：考試資料網(wǎng)

1 X射線衍射時(shí)，首先出現(xiàn)的衍射峰必定是（）的晶面。

2.問(wèn)答題什么叫干涉色？影響晶體干涉色的因素有哪些？光的干涉條件是什么？

參考答案：白光由七種不同波長(zhǎng)的單色光組成，由于不同單色光發(fā)生的消光位和最強(qiáng)位因各自波長(zhǎng)而處于不同位置，因此七種單色光的明暗干涉條紋...

3.問(wèn)答題簡(jiǎn)述透射電鏡的結(jié)構(gòu)。

4 分子的C-H對(duì)稱伸縮振動(dòng)的紅外吸收帶頻率比彎曲振動(dòng)的（）。

5.判斷題劉老師將一篇學(xué)術(shù)論文的引文網(wǎng)絡(luò)和參考文獻(xiàn)比喻為網(wǎng)購(gòu)過(guò)程中的“相似寶貝”。

6.問(wèn)答題簡(jiǎn)述X射線實(shí)驗(yàn)方法在現(xiàn)代材料研究中有哪些主要應(yīng)用。

參考答案：1.X射線物相定性分析：用于確定物質(zhì)中的物相組成；
2.X射線物相定理分析：用于測(cè)定某物相在物質(zhì)中的含量；

7.判斷題質(zhì)量數(shù)為奇數(shù)，荷電荷數(shù)為偶數(shù)的原子核，其自旋量子數(shù)為零。

8 有一倒易矢量g=2a+b*，與它對(duì)應(yīng)的正空間晶面是（）

9.問(wèn)答題電子探針對(duì)材料成分分析與EDXRF成分分析有何異同點(diǎn)？

參考答案：EPMA和XRF都能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行元素分析，但是有所區(qū)別的是：EPMA分析微區(qū)表面的成分，可以檢測(cè)樣品的點(diǎn)、線、面的不均勻...

10.問(wèn)答題簡(jiǎn)述掃描電鏡的基本原理。

參考答案：SEM是利用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像，試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子等，其中...