材料研究方法章節(jié)練習(xí)(2020.04.20)
來(lái)源:考試資料網(wǎng)2.問(wèn)答題什么叫干涉色?影響晶體干涉色的因素有哪些?光的干涉條件是什么?
參考答案:白光由七種不同波長(zhǎng)的單色光組成,由于不同單色光發(fā)生的消光位和最強(qiáng)位因各自波長(zhǎng)而處于不同位置,因此七種單色光的明暗干涉條紋...
3.問(wèn)答題簡(jiǎn)述透射電鏡的結(jié)構(gòu)。
參考答案:1.X射線物相定性分析:用于確定物質(zhì)中的物相組成;
2.X射線物相定理分析:用于測(cè)定某物相在物質(zhì)中的含量;
2.X射線物相定理分析:用于測(cè)定某物相在物質(zhì)中的含量;
9.問(wèn)答題電子探針對(duì)材料成分分析與EDXRF成分分析有何異同點(diǎn)?
參考答案:EPMA和XRF都能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行元素分析,但是有所區(qū)別的是:EPMA分析微區(qū)表面的成分,可以檢測(cè)樣品的點(diǎn)、線、面的不均勻...
10.問(wèn)答題簡(jiǎn)述掃描電鏡的基本原理。
參考答案:SEM是利用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像,試樣為塊狀或粉末顆粒,成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子等,其中...
